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ATP5105高靈敏度紫外微型制冷光纖光譜儀

型 號

所屬分類(lèi)微型光纖光譜儀

報價(jià)

產(chǎn)品描述:ATP5105高靈敏度紫外微型制冷光纖光譜儀ATP5105是奧譜天成研制的高性能紫外增強制冷型微型光纖光譜儀,它采用2048×64像素的制冷型線(xiàn)性CCD,CCD采用半導體制冷技術(shù),CCD可工作在設定的恒溫環(huán)境(Z低可達-15ºC),從而大幅降低了傳感器的噪聲,獲得了的信噪比(比同類(lèi)競爭對手提高了約2倍),而且提高了ATP5105的測量可靠性,測量結果不隨環(huán)境溫度

產(chǎn)品概述

ATP5105高靈敏度紫外微型制冷光纖光譜儀

 

產(chǎn)品概述

     ATP5105是奧譜天成研制的高性能紫外增強制冷型微型光纖光譜儀,它采用2048×64像素的制冷型線(xiàn)性CCD,CCD采用半導體制冷技術(shù),CCD可工作在設定的恒溫環(huán)境(zui低可達-15ºC),從而大幅降低了傳感器的噪聲,獲得了的信噪比(比同類(lèi)競爭對手提高了約2倍),而且提高了ATP5105的測量可靠性,測量結果不隨環(huán)境溫度變化。

同時(shí),奧譜天成為ATP5105特別定制了超低噪聲CCD信號處理電路,其量化噪聲小于3 counts,為業(yè)界*水平。

      ATP5105可接收SMA905光纖輸入光或者自由空間光,通過(guò)USB2.0或者UART端口,輸出測量所得的光譜數據。

      ATP5105只需要一個(gè)5V直流電源供電,非常便于集成使用。

ATP5105-高靈敏度、紫外增強微型光纖光譜儀(制冷型背照式CCD)

特點(diǎn):

  • 紫外增強高性能背照式CCD

  • 專(zhuān)門(mén)針對紫外優(yōu)化的光路和結構;

  • 探測器:背照式CCD(制冷至-15 oC

  • 探測器像素:3072

  • 超低噪聲CCD信號處理電路

  • 光譜范圍: 165-1100 nm

  • 光譜分辨率: 0.1-4 nm(取決于光譜范圍、狹縫寬度)

  • 光路結構:交叉C-T

  • 積分時(shí)間:2ms-130s

  • 供電電源:DC 5V±10% @ <2.3A

  • 18 bit, 570KHz A/DConverter

  • 光輸入接口:SMA905或自由空間

  • 數據輸出接口: USB2.0(High speed)或UART

  • 20針雙排可編程外擴接口

 

典型應用:

  • 拉曼光譜儀

  • 微量、快速分光光度計;

  • 光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析

  • 透過(guò)率、吸光度檢測;

  • 反射率檢測;

  • 紫外、可見(jiàn)和短波近紅外

  • 波長(cháng)檢測

探測器

類(lèi)型

線(xiàn)陣背照式CCD  (制冷到 -1C)

探測光譜范圍

165-1100 nm

有效像素

3072

像元尺寸

600μm×8μm

全量程范圍

~200 ke-

靈敏度

6.5 uV/e-

暗噪聲

6 e-

光學(xué)參數

波長(cháng)范圍

165-1100 nm

光學(xué)分辨率

0.1-4  nm (取決于狹縫、光譜范圍)

性噪比

>1300:1

動(dòng)態(tài)范圍

5000:1

工作溫度

-10-40 oC

工作濕度

< 85%RH

光路參數

光學(xué)設計

f/4 交叉非對稱(chēng)C-T光路

焦距

40 mm for incidence / 60 mm for  output

入射狹縫寬度

5、10、25、50、100、150、200 μm 可選,其他尺寸可定制

入射光接口

SMA905光纖接口、自由空間

電氣參數

積分時(shí)間

1 ms - 130 second

數據輸出接口

USB 2.0

ADC位深

18  bit

供電電源

DC 5V±10%

工作電流

<2.3A

存儲溫度

-20°C  to +70°C

操作溫度

-10°C  to +40°C

物理參數

尺寸

120×80×46 mm3

重量

0.5 kg

Sealing

Anti-sweat

 

 

ATP5105高靈敏度紫外微型制冷光纖光譜儀

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